Fundamentos de Metrología

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Fundamentos de Metrología

  • Autor: Sánchez Pérez, Angel María
  • Editorial: UPM. Publicaciones ETS I.I.

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Disponible  

Precio: 16 €    15,19 €

Material válido paraClase de materialTipo de materialCarreraCurso
METROLOGÍA INDUSTRIALUnidad DidácticaComplementarioGRADUADO EN INGENIERÍA EN TECNOLOGÍA INDUSTRIAL4º Curso
METROLOGÍA INDUSTRIAL AVANZADAUnidad DidácticaComplementarioMÁSTER UNIVERSITARIO EN INGENIERÍA AVANZADA DE FABRICACIÓN 

Reseña

Índice:

1) Introducción
- Medida de magnitudes
- Magnitudes de influencia y condiciones de referencia

2) Incertidumbre de medida
- Corrección de medidas
- Origen de la incertidumbre de las medidas
- Intérvalo de tolerancia e incertidumbre de medida
- Recomendaciones del CIPM sobre la incertidumbre

3) Cuantificación de la incertidumbre
- Repetibilidad de las medidas corregidas
- Medidas directas e indirectas: propagación de varianzas
- Determinación de la incertidumbre típica
- Determinación de la incertidumbre expandida

4) Trazabilidad y calibración
- Trazabilidad de las medidas: calibración
- Calibración de patrones e instrumentos

5) Otras formas de asegurar la trazabilidad
- Clases de precisión o calidades
- La utilización de clases precisión
- La asignación de clase a los equipos de ensayo

6)Casos prácticos
- Calibración y utilización de micrómetro
- Clibración de un comparador electrónico
- Calibración de resistencias eléctricas

Detalles

  • Nº de edición:
  • Año de edición: 0
  • Número de reimpresión:
  • Año de reimpresión: 0
  • Lugar: ESPAÑA
  • Dimensiones: 29X22X1
  • Páginas: 0
  • Soporte:
  • ISBN: 9788474841381

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