Fundamentos de metrología

  • Autor: Sánchez Pérez, Angel María
  • Editorial: Universidad Politécnica de Madrid

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Precio: 16 €    15,19 €

Fundamentos de metrología

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Material válido paraClase de materialTipo de materialCarreraCurso
METROLOGÍA INDUSTRIALUnidad DidácticaComplementarioGRADUADO EN INGENIERÍA EN TECNOLOGÍA INDUSTRIAL (PLAN 2011)4 º Curso
METROLOGÍA INDUSTRIALUnidad DidácticaComplementarioGRADUADO EN INGENIERÍA EN TECNOLOGÍA INDUSTRIAL (PLAN 2024)4 º Curso

Reseña

Índice:

1) Introducción.
- Medida de magnitudes.
- Magnitudes de influencia y condiciones de referencia.

2) Incertidumbre de medida.
- Corrección de medidas.
- Origen de la incertidumbre de las medidas.
- Intérvalo de tolerancia e incertidumbre de medida.
- Recomendaciones del CIPM sobre la incertidumbre.

3) Cuantificación de la incertidumbre.
- Repetibilidad de las medidas corregidas.
- Medidas directas e indirectas: propagación de varianzas.
- Determinación de la incertidumbre típica.
- Determinación de la incertidumbre expandida.

4) Trazabilidad y calibración.
- Trazabilidad de las medidas: calibración.
- Calibración de patrones e instrumentos.

5) Otras formas de asegurar la trazabilidad.
- Clases de precisión o calidades.
- La utilización de clases precisión.
- La asignación de clase a los equipos de ensayo.

6)Casos prácticos.
- Calibración y utilización de micrómetro.
- Clibración de un comparador electrónico.
- Calibración de resistencias eléctricas.

Detalles

  • Nº de edición:
  • Año de edición: 1999
  • Número de reimpresión:
  • Año de reimpresión: 0
  • Lugar: ESPAÑA
  • Dimensiones: 29X22X1
  • Páginas: 92
  • Soporte:
  • ISBN: 9788474841381